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不稼働度Q(t)について (4) |
3. 稼働度の定義からの導出
ついでに既出ですが、リペアラブルエレメントの不稼働度Q(t)の数式的な求め方を示します。基本的にはブログ記事に示す導出方法です。
QSM(t):=Pr{(repairable)SM down at t}=1−ASM(t) 一方、稼働度は、 ASM(t):=Pr{(repairable)SM up at t}=R(t)+∫t0m(x)R(t−x)dx ここで、A(t)は時刻tにおけるポイントアベイラビリティ、R(t)は時刻tにおけるリライアビリティ(信頼度)、m(t)は時刻tにおけるリニューアル密度(修理密度)です。
規格に従えば、修理周期は教科書一般にあるように指数関数分布はとらず、定期的にτ毎に行われるため、稼働度として(350.2)は(350.3)と表せます。ここで、iはi番目の定期検査・修理を意味し、時刻tまでにn回の定期検査・修理が行われるものとします。 ASM(t)=RSM(t)+KSM,MPFFSM(τ)n∑i=1RSM(t−iτ) ここで、KSM,FMC,MPFは少々長いので、KSM,MPFと省略しました。PMHFの議論中のKはFMC(Failure Mode Coverage)に決まっているためです。
修理分KSM,MPFFSM(τ)が時刻tの関数でないのは、検出能力KMPFは一定で、かつ毎回の故障確率も一定で、検出した分は全て修理されるため、修理分が一定となるためです。(350.3)式の総和を展開すれば、 ASM(t)=RSM(t)+KSM,MPF[1−RSM(τ)]⋅[RSM(t−τ)+RSM(t−2τ)+...+RSM(t−(n−1)τ)]=RSM(t)+KSM,MPF[RSM(t−τ)−RSM(t)+RSM(t−2τ)−RSM(t−τ)...+RSM(t−nτ)−RSM(t−(n−1)τ)]=RSM(t)+KSM,MPF[−RSM(t)+RSM(t−nτ)] ここで、u:=t−nτとパラメータuを定義し、(350.1)に(350.4)を代入すれば、 QSM(t)=1−ASM(t)=FSM(t)−KSM,MPF[FSM(t)−1+1−FSM(u)]= 以上から、(348.1)、(349.3)、(350.5)で示されたように、導出手法は異なっても同一のPUA方程式が導出されることがわかります。
このリペアラブルエレメントの不稼働度Q(t)(350.5)及び、それを時間微分した不稼働密度q(t)の方程式(350.6)は、PMHF方程式の導出の根幹です。
qSM(t)=dQSM(t)dt=(1−KSM,MPF)dFSM(t)dt+KSM,MPFdFSM(u)dududt=
なお、本稿はRAMS 2025に投稿予定のため一部を秘匿しています。
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