Posts Tagged with "ISO 26262"

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posted by sakurai on May 18, 2017 #35

A paper on the failure rate of automobiles authored by Sakurai Atsushi, who is the CEO & CTO of Functional Safety Consultant FS Micro (Headquarters: Shibuya Ward, Tokyo, JAPAN) received the Best Paper Award at ISPCE 2017 (2017 IEEE Symposium on Product Compliance Engineering) held in San Jose, California in May 2017.

On 14th, on May 9th morning of local time, a paper authored by Sakurai Atsushi, who is the CEO & CTO of FS Micro Corporation (Head office: Shibuya-ward, Tokyo, JAPAN), functional safety consultant) received the Best Paper Award at ISPCE 2017 (Note 1), an international conference of IEEE (Note 2) held in San Jose, California, from May 8th to 10th, 2017.

Among the 20 formal papers, there is only one to be deserved as the Best Paper Award.

The title of the paper won the Best Paper Award is "Generalized Formula for the Calculation of a Probabilistic Metric for Random Hardware Failures in Redundant Subsystems" related to the PMHF (Note 3).

When performing safety analysis using FMEDA (Note 4) or quantitative FTA (Note 5) in accordance with ISO 26262 which is the international standard of automobile functional safety (Note 6), the failure rate calculation formula relating to the redundant subsystem (Note 7) is unclear, it was difficult to accurately perform quantitative analysis.

It was selected as the Best Paper Award, because it contributes to expand the application of the standard in quantitative safety analysis.

Note 1: 2017 IEEE Symposium on Product Compliance Engineering. International conference organized by the IEEE's Product Safety Engineering Society, once a year from 2004, with regard to product safety.
Note 2: The world's largest academic institute on electrical and electronics engineering headquartered in the United States.
Note 3: PMHF (Probabilistic Metric for Random Hardware Failures) means the average probability of failure per hour over the operational lifetime of the item.
Note 4: Inductive analytical method which quantitatively demonstrates how failure modes of parts affect safety of the whole system using the failure rate.
Note 5: A deductive analytical method that quantitatively demonstrates the possibility of the safety goal violation by calculating the probability using the fault tree.
Note 6: Methodology to ensure system safety by adding various safety measures.
Note 7: Subsystems subject to functional safety, those with redundancy.

PSES

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posted by sakurai on May 18, 2017 #34

2017年5月にアメリカ・カリフォルニア州サンノゼにて開催された、IEEEの製品安全に関する国際学会であるISPCE 2017(2017 IEEE Symposium on Product Compliance Engineering)において、ISO 26262機能安全コンサルタントのFSマイクロ(本社:渋谷区)代表 桜井 厚の執筆した自動車の故障率に関する論文が最優秀論文賞を受賞しました。

2017年5月8日から10日まで、アメリカ・カリフォルニア州サンノゼにて開催されたIEEE(注1)の国際学会である第14回ISPCE 2017(注2)において、現地時間の5月9日午前11時、ISO 26262機能安全コンサルタントのFSマイクロ株式会社(本社:渋谷区)代表取締役社長 桜井 厚の執筆した論文が最優秀論文賞を受賞しました。

正式論文として投稿された20本のうち、最優秀論文賞は1本のみです。

最優秀論文賞を受賞した論文の題名は「Generalized Formula for the Calculation of a Probabilistic Metric for Random Hardware Failures in Redundant Subsystems」という、PMHF(注3)に関する論文です。
これまで自動車の機能安全(注4)の国際規格であるISO 26262に従いFMEDA(注5)や定量FTA(注6)を用いて安全分析を行う場合、冗長サブシステム(注7)に関する故障率算出式が不明確であったため定量分析を正確に行うことが困難でした。
定量的な安全分析における同規格の適用範囲を拡大したことが評価され、最優秀論文賞に選ばれたものです。

注1:アメリカ合衆国に本部を持つ電気工学・電子工学技術に関する世界最大規模の学会
注2:2017 IEEE Symposium on Product Compliance Engineering。IEEEが2004年から年に一度主催する国際学会で、製品安全に関しては世界最高レベルの学会 http://2017.psessymposium.org/
注3:PMHF (Probabilistic Metric for Random Hardware Failures)は、車両寿命間における故障確率の時間平均を表す指標
注4:様々な安全機構を付加することで、システムの安全性を担保する考え方
注5:部品の故障モードがシステム全体の安全にどのように影響するかを、故障率を用いて定量的に論証する帰納的な分析手法
注6:安全目標侵害確率を故障のツリーを用いて算出することにより、故障が危険な事象となる可能性を定量的に論証する演繹的な分析手法
注7:機能安全の対象となるシステムのうちの一部で、冗長性を持つもの

図PSES

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弊社PMHF論文がISPCE 2017に採択

posted by sakurai on March 22, 2017 #33

プレスリリース

プレスリリースでもご紹介したように、当ブログでご紹介したPMHFの導出式に基づいた論文が、5月にアメリカ・カリフォルニア州サンノゼにて開催予定のISPCE 2017に採択されました。

論文のタイトルは「Generalized Formula for the Calculation of a Probabilistic Metric for Random Hardware Failures in Redundant Subsystems」です。邦題は「冗長サブシステムに関するランダムハードウェア故障の確率的メトリクス計算の一般式」で、冗長サブシステムも含めた車両寿命間の故障率の一般式を導出するものです。

図ISPCE2017

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FTA (11)

posted by sakurai on January 23, 2017 #30

共通原因故障(CCF)

前稿では冗長制御方式を取り上げて、メインマイコンとサブマイコンがお互いに主機能とSMの関係になっており、SPFを防止していることを説明しました。共通原因故障(Common Cause Failure, CCF)が無い理想的な場合にはこれが成立します。一方、メインマイコンとサブマイコンにCCFを持つ場合にはどうなるか、MCSを取得してみましょう。

CCFの例

メインマイコンとサブマイコンに共通の発振回路からクロックを供給している場合はどうでしょうか? メインマイコン発信回路の故障をBE028、サブマイコン発振回路の故障をBE031としていたもとのツリーを変更してBE031をBE028に置き換えてみます。こうすると冗長系の両側に共通の故障原因BE028を持つことになり、MCSを取得すると以下のようにANDの下だったものが上位のORに接続され、SPFの原因となります(図29.1)。

図29.1
図29.1 CCFのFT図

図29-2
図29.2 分配則

図29.2はブール代数の分配則であり、これにより上記論理変換が行われます。

これは何を意味するかというと、共通の電源、クロック源、あるいは共通の型番を持つと、単一のランダムハードウェア故障ないしはシステマティック故障により、メインマイコンとサブマイコンのお互いの安全機構の構造が崩れて、単一原因により安全目標が侵害されるとことになり、重要な故障となることを意味します。

ISO26262はこのCCFを定量的に計算する手段を規定していないため、ISO26262のベース規格であるIEC61508に記述されているCCFのβファクタを援用することになります。また、ISO26262の発展規格であるISO19451において、従属故障分析(DFA, Dependent Failure Analysis)として詳述されていますので、ご参照ください。


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FTA (10)

posted by sakurai on January 20, 2017 #29

因数分解

前稿のMCSにおいて因数分解を行います。このステップは必須のステップではありません。論理的には前のツリーと等価なツリーなのですが、冗長構成となっていることをひとめで明らかにするために因数分解を行います。上記のMCS論理式を因数分解したものを以下のFTに示します。因数分解はAND-OR形式をOR-AND形式に変換するものですが、残念ながら自動的には困難であるため、人力で行います。

FTA-TEST1-MCS-FACT
図29.1 FTA例のMCSと等価のFT

論理等価なのでMCSは上記MCSと同じです。メインマイコン各部(8箇所)の故障とサブマイコン各部(8箇所)の故障が互いに主機能・安全機構の関係となりSPFを防止しており、共通部分の回路のみがSPFとなっていることがひとめでわかります。MCの数は前と同じく8×8+1=65項となります。

ISO26262の目的は安全に関する論証なので、このようにアセッサー等の第三者が見てわかりやすいドキュメントを生成することが重要です。マイコンやLSIのように比較的故障率の大な部品を使用する際に、マイコン単体でASIL-Dを達成するのは困難ですが、このような冗長構成をとればSPF/RFが冗長部分で微小となるため、ASIL-D対応が可能となります。


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FTA (9)

posted by sakurai on January 10, 2017 #28

実際の例

システムFTAの実例をご紹介します。これはあるECUの安全分析を実施したもので、メインマイコンとサブマイコンによる冗長制御を行っているECUの例です。電源回路は共通で、共通の信号が両マイコンに入力され、両マイコンの出力が揃って初めて動作するという回路構成となっています。主機能としてはマイコンはひとつで成立するのですが、ECUがASIL-D対応をする必要があるため、冗長構成をとり故障率を低減しています。

システムFTAと称する理由は、基事象が部品の故障モードではなく、エレメントの故障モードとなっているためです。

トップ事象を侵害する分析は、このように一般的に非常に複雑になり、マイコンの故障が複数個所に出てくることになります。以下はFTの図です。

FTA-TEST1
図28.1 ECUのFTA例

MCSの導出

この例のMCSを取得したものが以下の図です。SAPHIREにより155個の積項(ミニマルカット=MC)が得られました。カラムは順番に、その事象の「連番」、「ケース」、「確率」、「確率のパーセント表記」、「ミニマルカット」です。

mcs1-1
〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜
mcs1-2
図28.2 FTA例のMCS

3次以上の次数項の省略

次にSAPHIREの分析の際に、3次以上の積項を省略したMCSを取得してみます。3次以上の積項を省略する理由は、ISO26262において3点故障はセーフフォルトとして良いとあるためであり、3次以上の積項は一般的に確率的に非常に小さいので省略可能なためです。

これを行うにはSAPHIREにおいて、Fault Treeを選択しSolveコマンドを実行する際に、Sizeに2を設定します。すると155個得られた積項が65個と減少します。以下のMCSの論理式を確認すると1次と2次の積項のみであることがわかります。今回はTOP事象の侵害確率は、155項の積算でも65項の積算でも2.218E-5と変わりませんでした。これからも3次以上の積項を省略することが可能と言えます。

mcs2-1
〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜〜
mcs2-2
図28.3 FTA例のMCS(2次以下)

これを論理式として出力し、FTL(Fault Tree Language)に(手で)変換してからSAPHIREに取り込むと、SAPHIREがツリーを構成してくれます。その図を以下に示します。

FTA-TEST1-MCS
図28.4 FTA例のMCSのFT

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FTA (8)

posted by sakurai on December 20, 2016 #27

MCSのFault Tree

SAPHIREではMCSの論理式は出力してくれるのですが、残念ながらFault Tree図(FT図)は構成されません。そこで、論理式からのインポートを行います。まず論理式は図26.2のように出力されるので、それをFTL(Fault Tree Language)に変換しますが、変換したものを以下に示します。

WARWICKFTA, TOP-MCS =
TOP-MCS OR TOP0 TOP1
TOP0 AND E1 E3 E4
TOP1 AND E2 E3 E4

その後、SAPHIREのインポート機能により取り込み、FT図を作成したものが、図27.1となります。

図27.1
図27.1 MCSのFT図

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FTA (7)

posted by sakurai on December 13, 2016 #26

論理圧縮の実際

前回ご紹介した、英国Warwick大学のFTに対して、SAPHIREでTOP事象侵害確率を求めてみます。 FTのイベントに対して、$A=e_1$、$B=e_2$、$C=e_3$、$D=e_4$と置き直して、FTA(5)の表24.1のイベントの故障率に基づけば、

表26.1
基事象ID 故障率[FIT]
e1 8.74
e2 1.80
e3 1.53
e4 5.08

これらに基づきSAPHIREでFTを構成すると図26-1のようになります。

図26-1
図26.1 FT図

SAPHIREによりMCSを求め、TOP事象侵害確率を求めると以下の表のようになります。車両寿命を$10^5$時間とすれば、平均的な故障率は$8.186\cdot 10^{-6}[FIT]$となります。

表26.2
表26-2

MCSは同じく{{A, C, D}, {B, C, D}}と求められます。


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FTA (6)

posted by sakurai on December 4, 2016 #25

論理圧縮の実際

さらにツールを用いてやや複雑なFTに関して論理圧縮を実行してみましょう。英国Warwick大学のFTAの説明資料に以下のようなやや複雑なFTが例示されています。

図21-1
図25.1

これにFTA(4)のMCSアルゴリズムで示したブール代数により手作業で論理圧縮を実施すると、以下のようになります。

\[ (A\cup B)\cap((A\cap C)\cup(A\cap B))\cap(D\cap C) =(A+B)(AC+DB)DC\\ =AACDC+ADBDC+BACDC+BDBDC\\ =ACD+ABCD+ABCD+BCD\\ =ACD(1+B)+BCD(1+A)\\ =ACD+BCD \]

図25.2

MCSは{{A, C, D}, {B, C, D}}と求められます。一方、WinCUPLで論理圧縮を行うには、以下のようなファイルを用意します。

Name MinimalCutSet;
PartNo 00 ;
Date 2016/03/28 ;
Revision 01 ;
Designer Engineer ;
Company FS Micro Corporation;
Assembly None ;
Location ;
Device ;

Pin [1..4] = [A, B, C, D];
Pin 5 = Q;

/* EQUATIONS */
Q.t = (A # B) & ((A & C) # (D & B)) & (D & C);

図25.3

WinCUPLにより論理圧縮をかけた結果、以下のような出力が得られます。手作業で実施したのと同じ論理式が得られます。


*******************************************************************************
MinimalCutSet
*******************************************************************************

CUPL(WM) 5.0a Serial# 60008009
Device virtual Library DLIB-h-40-1
Created Tue Mar 29 09:37:27 2016
Name Minimal Cut Set
Partno 00
Revision 01
Date 2016/03/28
Designer Engineer
Company FS Micro Corporation
Assembly None
Location

===============================================================================
Expanded Product Terms
===============================================================================

Q.t =>
B & C & D
# A & C & D

図25.4

MCSは同じく{{A, C, D}, {B, C, D}}と求められます。


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FTA (5)

posted by sakurai on November 19, 2016 #24

WinCUPL

前稿でMCSの導出はブール則による論理圧縮であることを説明しました。論理圧縮ツールの具体例として、WinCUPLというツールをご紹介します。これは大学で開発されたCUPLというPLDのプログラミングツールをAtmelがWindows用に移植したもので、無料で使用可能です。 PLDプログラミング機能のうちのlogic minimization(論理圧縮)機能を使用します。論理圧縮とは、入力された複雑なブール式をespresso法等で簡略化するもので、本稿ではFTAのMinimal Cut Setを導出するために流用します。

PMHF値の算出

実際にWinCUPLにより論理圧縮を実施し、MCSを求め、PMHF値を算出してみましょう。PMHFとは、車両寿命間での故障確率(正確には平均不稼働確率)を求め、車両寿命で割った平均故障率(正確には平均不稼働率)を意味します。ただしこの場合、DPFは小さいため無視するものとします。FTA(1)でご紹介したFTを対象とします。さらに基事象の故障確率は以下の表で与えられるものとし、車両寿命を$10^5$[H](10万時間)として確率を計算します。

表24.1
基事象ID 故障率[FIT]
e1 8.74
e2 1.80
e3 1.53
e4 5.08
e5 9.69
e6 5.36
e7 8.22
e8 6.23

手順としてはまず、このFTをWinCUPLにより簡単化します。

FTA(1)でご紹介したFTをCUPLの入力論理式で記述すると、以下のようになります。

Name MinimalCutSet;
PartNo 00 ;
Date 2016/03/28 ;
Revision 01 ;
Designer Engineer ;
Company FS Micro Corporation;
Assembly None ;
Location ;
Device ;

/* *************** INPUT PINS *********************/
Pin [10..18] = [e1..e8];

/* *************** OUTPUT PINS *********************/
Pin 1 = top;

top = (e1 # e2) # (e3 & e4 & e5) # (e6 # (e7 & e8));

図24.1

WinCUPLによる論理圧縮

前述の入力をWinCUPLで処理すると、以下のようなドキュメントが出力されます。


*******************************************************************************
MinimalCutSet
*******************************************************************************

CUPL(WM) 5.0a Serial# 60008009
Device virtual Library DLIB-h-40-1
Created Tue Mar 29 09:37:27 2016
Name Minimal Cut Set
Partno 00
Revision 01
Date 2016/03/28
Designer Engineer
Company FS Micro Corporation
Assembly None
Location

===============================================================================
Expanded Product Terms
===============================================================================

top =>
e3 & e4 & e5
# e7 & e8
# e6
# e2
# e1

(省略)

図24.2
ここで、上記論理式は、{{e1}, {e2}, {e6}, {e7, e8}, {e3, e4, e5}}というMCSを意味します。従って、TOP事象侵害確率をレアイベント近似で求める場合、FTA(2)で見たように(21.2)で求められます。 \[ P\{TOP\}\approx P\{e_1\}+P\{e_2\}+P\{e_3\}P\{e_4\}P\{e_5\}+P\{e_6\}+P\{e_7\}P\{e_8\}\tag{24.1} \]

これらの基事故障率に基づいて、車両寿命を$10^5$[H]とした場合の「Exponential1次近似」を用い、さらにレアイベント近似を用いた計算を行うと、

0.000874+0.00018+0.000153*0.000508*0.000969+0.000536+0.000822*0.000623=1.591e-03

図24.3

となります。PMHFは故障率の次元を持つので上記確率を車両寿命$10^5[H]$で割ると、PMHF=$1.591\cdot 10^{-8}=15.91$[FIT]と求められます。

SAPHIREによる計算

SAPHIREではMCS導出とTOP事象侵害確率計算まで自動で可能です。この結果を次図に示します。

図new ft cutset2
図24.4 MCS図

SAPHIREでも同じく{{e1}, {e2}, {e6}, {e7, e8}, {e3, e4, e5}}というMCSが取得できました。また、TOP事象確率は$1.590\cdot 10^{-3}$と手計算と比較して若干小さい結果となりました。同様に上記確率を車両寿命$10^5[H]$で割れば、PMHF=$1.590\cdot 10^{-8}=15.9$[FIT]となります。手計算の結果のほうが若干大きいのは、レアイベント近似によるダブルカウントのためと考えられます。


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